微波屏蔽暗室的性能通过一系列量化指标进行评估，确保测试结果的准确性和可靠性。屏蔽效能是基础指标，要求磁场在14千赫频率衰减不低于75分贝，150千赫衰减不低于100分贝；电场在200千赫至50兆赫范围衰减不低于100分贝；平面波在50兆赫至1吉赫范围衰减不低于100分贝；微波在1吉赫至10吉赫衰减不低于100分贝，10吉赫至18吉赫衰减不低于90分贝。吸波材料反射损耗要求在30兆赫至18吉赫频率范围内不低于15分贝。静区特性是核心指标，以静区大小、最大反射电平、交叉极化度、场均匀性等参数描述。高端暗室要求静区反射电平低于负40分贝，交叉极化度小于负35分贝，路径损耗均匀性控制在正负0.25分贝以内。归一化场地衰减要求正负4分贝，场均匀性要求0至6分贝。接地系统要求安全保护地电阻值不大于1欧姆。这些指标的测试严格遵循GB12190、GJB6190等国家标准。

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